用途:
超大规模集成电路芯片的测试,包括package和晶圆测试
大规模系统级芯片的测试,包含各种IP,如memory单元,高速模拟单元,射频单元,高速接口单元
特性参数:
主频100MHz
拥有512个数字通道
每个通道具有独立的驱动电路、比较电路、动态负载机及PPMU
拥有8M 向量存储深度
拥有96M或384M的扫描深度
用途: 用于各种电压调整器的电特性检测
全浮动VI源,具备AWG和数字化仪功能。
采用硬件扫描方式测试极限电流、短路电流,可在300uS-500uS内完成,测试更安全。
填表式编程方式,提供简单和高级两种模式,既适用于科研人员使用,也适与测试工人操作。
用于SOC芯片的工程开发验证及量产测试,封装品及晶圆测试
大规模系统级芯片测试,MCU、存储器、数字器件、模拟器件等
支持64~1920双向输入输出通道
支持差分信号,最高速率400 Mbps(复用支持800Mbps)
每通道支持64Mv向量深度
每通道均支持精密测量单元
每通道支持可同步的13V高压输出
支持24位/16位的8通道AWG/DGT混合信号
4象限的电源通道支持±10V/±1A;
支持时间测量单元,支持存储器测试选项
用于对各种电源(AC/DC、DC/DC 等电源模块及组合电源)进行测试
对元器件的电特性进行检测
系统测试采用远程四线测量原理,保证测量数据真实有效。
架构在 WINDOWS 测试系统上,采用图形化测试界面,操作简单方便。
系统通过控制电脑运行专用的测试软件进行参数设置及测量,实现自动化测试的要求。
开放式系统结构:满足用户不同应用场合及使用的需要,重点突出开放、通用等特点。
丰富的仪器设备驱动程序库:驱动程序库可以添加不同品牌主流产品的驱动程序。